產(chǎn)品展示

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國產(chǎn)電鏡鎢燈絲掃描電子顯微鏡是一款使用鎢燈絲的高性能掃描電子顯微鏡。觀察亞微米級的微觀結(jié)構(gòu),放大倍數(shù)可達300000倍。此型產(chǎn)品具有快速更換燈絲的優(yōu)點。其分辨率可達3 nm,在自動五軸樣品臺的配合下,...
國儀量子場發(fā)射掃描電子顯微鏡SEM5000Pro是一款分辨率高、功能豐富的場發(fā)射掃描電子顯微鏡。先進的鏡筒設(shè)計,高壓隧道技術(shù)(SuperTunnel)、低像差無漏磁物鏡設(shè)計,實現(xiàn)了低電壓高分辨率成像,...
H-Sorb X600 系列高溫高壓吸附儀產(chǎn)品,是我公司自主研發(fā)的高性能吸脫附等溫線測試儀器,采用靜態(tài)容量法測量原理。可測試的等溫線溫度和壓強范圍滿足眾多科研領(lǐng)域需求。該系列產(chǎn)品的高性能,不僅實現(xiàn)了進...
國儀量子鎖相放大器LIA001M是一款集鎖相放大、虛擬示波分析、參數(shù)掃描、解調(diào)繪圖和數(shù)據(jù)分析等多種功能為一體的高性能鎖放。基于高性能數(shù)字信號處理技術(shù)和先進的硬件設(shè)計,能夠精確、快速的檢測出淹沒在強噪聲...
公司簡介

國儀量子的核心技術(shù)是以量子精密測量為代表的先進測量技術(shù),為全球范圍內(nèi)企業(yè)、政府、研究機構(gòu)提供以增強型量子傳感器為代表的核心關(guān)鍵器件、用于分析測試的科學(xué)儀器裝備、賦能行業(yè)應(yīng)用的核心技術(shù)解決方案等優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品和服務(wù)。公司源自具有國際聲譽的中國科學(xué)技術(shù)大學(xué),承襲其創(chuàng)新基因與探索精神,致力于為全球科技工作者提供探索微觀世界的先進工具。公司榮獲多項榮譽,包括“2021年安徽省科學(xué)技術(shù)獎一等獎”、“朱良漪分析儀器創(chuàng)新獎”、“安徽省新型研發(fā)機構(gòu)”、“安徽省量子精密測量創(chuàng)新中心”以及“安徽省專精特新冠軍企業(yè)”等。...
News
共價有機框架(COFs)材料作為一類由有機分子通過共價鍵連接形成的晶態(tài)多孔材料,憑借孔道穩(wěn)定可調(diào)、超高的比表面積及優(yōu)異的化學(xué)穩(wěn)定性,在氣體吸附分離、催化、儲能等領(lǐng)域展現(xiàn)出不可替代的應(yīng)用價值。COFs材料的性能評估(如氣體吸附容量、催化活性位點利用率)與材料的比表面積和孔徑分布等參數(shù)直接相關(guān)。國儀量子SiCOPE40作為專為微孔材料表征設(shè)計的比表面積及孔徑分析儀,實現(xiàn)對0.35-2nm孔徑范圍的精準(zhǔn)表征分析,為COFs材料的表征提供了可靠的解決方案。本文將結(jié)合實際測試案例詳細(xì)闡...
摘要:分子篩材料因其規(guī)則的微孔結(jié)構(gòu)與優(yōu)異的吸附與分離性能,被廣泛應(yīng)用于催化、能源、環(huán)保和石油化工等領(lǐng)域。精準(zhǔn)表征其孔徑分布與比表面積對材料研發(fā)與工業(yè)應(yīng)用至關(guān)重要,然而其孔徑范圍窄、對吸附氣體敏感、預(yù)處理要求嚴(yán)格,使得分析難度較高。國儀量子SiCIPE40微孔分析儀憑借高真空設(shè)計、全流程無空氣接觸測試及先進的孔徑分析模型,為分子篩材料提供了高精度、可重復(fù)的微孔孔徑表征方案。本文將結(jié)合典型分子篩材料的表征案例,系統(tǒng)展示儀器在不同孔徑范圍的分子篩表征中應(yīng)用優(yōu)勢,為科研與工業(yè)場景提供...
電子順磁共振波譜儀用于檢測含有未成對電子的物質(zhì),是進行物質(zhì)組成和結(jié)構(gòu)分析的強有力工具,該產(chǎn)品功能綜合,適用于通用的連續(xù)波和脈沖EPR測量,實驗場景多樣化,滿足光照、低溫、轉(zhuǎn)角等實驗需求,不限脈沖個數(shù),適用于極多脈沖的動力學(xué)去耦技術(shù),在環(huán)境科學(xué)、生物醫(yī)療、化學(xué)領(lǐng)域、工業(yè)領(lǐng)域中具有重要應(yīng)用價值。一、電子順磁共振波譜儀研究的對象電子順磁共振波譜儀是一種磁共振光譜,用于檢測未配對(或“自由”)電子。電子順磁共振波譜儀的物理原理與核磁共振相似,但電子順磁共振波譜儀測量的是未配對的電子,...
高速掃描電子顯微鏡作為一種高精度的微觀分析儀器,廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物學(xué)、醫(yī)學(xué)和納米技術(shù)等領(lǐng)域。然而,由于其復(fù)雜的結(jié)構(gòu)和高精度的工作要求,SEM在使用過程中可能會出現(xiàn)各種故障。其中,掃描畸變和信號延遲是較為常見的問題,這些問題會直接影響圖像質(zhì)量和分析結(jié)果的準(zhǔn)確性。因此,掌握這些常見故障的診斷與解決方法對于確保儀器的穩(wěn)定運行和實驗的順利進行至關(guān)重要。掃描畸變:圖像變形的診斷與解決掃描畸變是指在掃描電子顯微鏡中,圖像出現(xiàn)變形、扭曲或不均勻的現(xiàn)象。這種現(xiàn)象可能由多種因素引起,包括...
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